真金不怕火来炼！台电稳影NVMe可靠性测试

之前，我对台电稳影NVMe固态硬盘做了性能测试，在与SATA固态硬盘对比下，它在性能跑分以及实际使用体验中都给人留下深刻印象。不过，一块硬盘的好坏并不都由性能决定，毕竟它是要长期使用的设备，因此我们还要考虑它在大量数据写入以及遭遇一些突发情况下的可靠性如何。

为此，我特意安排了老化、休眠、重启、异常断电四个项目来进一步测试台电稳影NVMe。需要说明的是，每个项目耗时72小时，总共花了快半个月时间。而如此密集且高强度的测试，台电稳影NVMe能否经受得住呢？我们往下看！

老化测试

所谓老化测试，是用BurninTest（BIT）在一定时间内对固态硬盘内部的闪存芯片进行不间断的满盘擦写，并观察测试期间芯片状况。

值得一提的是，这个测试的意义和闪存的工作原理相关。简单科普一下，在闪存芯片的存储单元中，记录数据的关键在于浮栅层，而通过在控制栅极和漏级之间施加高电压，就可以引发量子隧道效应，使电子进入到浮栅层中，这时存储单元是写入状态。反过来，也可以通过高电将浮栅层中的电子抽离出去，这便是闪存的擦除。

但是在浮栅层和基层之间有一层很薄的氧化物，在反复的写入和擦写过程中，这层氧化物会逐渐变薄，渐渐困不住活跃的电子。而当电子活跃度超出主控纠错能力范围的时候，芯片读写就会出现差错。而固态硬盘的使用寿命和写入量挂钩也是这个原因，一般来说，写入的数据量越大，硬盘出现报错的几率也越大。

本轮测试中，BIT设置为每次写入磁盘总量的15%，负荷最大100，不间断擦写测试时间为72小时。可以看到最终结果是“PASSED”，意味着台电稳影NVMe轻松通过测试。

重启、休眠、断电测试

平常使用电脑的时候，都会经历重启、休眠，甚至偶尔发生断电情况。而这些情况的频繁发生，将导致整体硬件性能下降，如果买到质量较差的固态硬盘，可能会出现数据读取问题，严重时还会造成数据丢失的后果。

所以在这三轮测试中，我将系统连同测试软件一并考入台电稳影NVMe中，然后进行重启、休眠、断电三项测试，且每项测试都设置3000次循环，共历时9天。

在3000次的重启测试中，台电稳影NVMe轻松通过，期间并没有出现蓝屏、卡顿等问题。

3000次的休眠测试中，软件也没有出现报错，每次休眠后醒机都可以正常进入桌面，测试再次完美通过。

最后是3000次的断电测试，台电稳影NVMe的报错为零，品质之坚可见一斑。

这一轮测试中，台电稳影NVMe经受住了严苛考验，连续9天的不间断测试并没有对它造成任何影响，由此也可见其产品质量极为可靠。

经过性能和可靠性测试，我们再用CrystalDiskinfo查看台电稳影NVMe的信息，可以看到整个测试下来，共写入了68720GB的数据，通电5178次，通电时间413小时。短时间经历这些，对硬盘来说确实压力山大，但显然台电稳影NVMe抗住了这些。

然而，在这些严苛的测试之后，台电稳影NVMe是否会受到影响而出现性能严重下降呢？我用CrystalDiskMark重新测试了一下，结果读写速度分别为2073.08MB/s和1612.39MB/s，与之前测试的2074.8MB/s和1616MB/s的读写速度没啥差别，说明在经历了各种“摧残”之后，台电稳影NVMe的性能表现仍如新盘一般。